L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀
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產(chǎn)品名稱:
L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀
產(chǎn)品型號(hào):
269
產(chǎn)品展商:
L&W
產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀型號(hào)269
L&W光學(xué)粗糙度儀用于測量紙張表面粗糙度并評(píng)估印刷適應(yīng)性的儀器。 相較于傳統(tǒng)的光學(xué)法測定紙張表 面粗糙度的儀器，L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀具有更快的速度，更好的測試方法及更高的性價(jià)比。 這一測試方法由瑞典的Innventia(原STFI)開發(fā)，在過去20年間已經(jīng)被證明是一種杰出的方法，用于評(píng)估紙張表面粗糙度和印刷缺陷之間的關(guān)系。
L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀 的詳細(xì)介紹
L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀型號(hào)269
L&W OptiTopo用于測量紙張表面粗糙度并評(píng)估印刷適應(yīng)性的儀器。 相較于傳統(tǒng)的光學(xué)法測定紙張表 面粗糙度的儀器，它具有更快的速度，更好的測試方法及更高的性價(jià)比。 這一測試方法由瑞典的Innventia(原STFI)開發(fā)，在過去20年間已經(jīng)被證明是一種杰出的方法，用于評(píng)估紙張表面粗糙度和印刷缺陷之間的關(guān)系。|總代理|代表處|授權(quán)代理商|辦事處|分公司|全資子公司|價(jià)格|品牌|批發(fā)|選型|維修|校準(zhǔn)
相較于傳統(tǒng)的光學(xué)測量方法（如激光法、同焦法和色差法），L&W OptiTopo具有約20倍大的測量面積，因此可以得到更準(zhǔn)確、更具代表性的測試結(jié) 果。L&W OptiTopo 在約10秒內(nèi)檢測分析1000 mm2測試區(qū)域，測試結(jié)果將快速的顯示在觸摸屏上。其他產(chǎn)品：微量氧分析儀,藥品殘氧儀,露點(diǎn)儀,熱導(dǎo)氣體分析儀,GE流量計(jì),OX-1氧傳感器,頂空分析儀,紅外氣體分析儀,高溫濕度儀,西門子U23分析儀,PPB微量水分析儀,OXY.IQ氧分析儀,煙氣濕度儀,燃?xì)鉄嶂祪x,KAYE溫度驗(yàn)證儀,L&W白度,儀激光氧分析儀,壓縮空氣露點(diǎn)儀,干燥機(jī)露點(diǎn)儀,激光氣體分析儀,便攜式露點(diǎn)儀,便攜式微量氧分析儀西門子氧電池\OXY-12\ULTRAMAT-23代表U23氧模塊價(jià)格|PID傳感器 |總代理|代表處|授權(quán)代理商|辦事處|分公司|全資子公司|價(jià)格|品牌|批發(fā)|選型|維修|校準(zhǔn)
L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀測量技術(shù)
L&W OptiTopo 采用高分辨率CMOS成像系統(tǒng)在兩種不同的光照條件下對(duì)紙張表面同一區(qū)域拍攝兩張照片，借助分析紙張表面的因粗糙不平形成的地形圖。紙張樣品先由地位一側(cè)的光照系統(tǒng)照亮并成像，隨后在另一側(cè)燈光照射下成像，以漸變映向的形式展現(xiàn)并解析為高度圖進(jìn)行下一步分析。
L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀測量結(jié)果
L&W OptiTopo引入兩種新的測量結(jié)果：Crater 值和 OSD值。這兩種測試結(jié)果更能代表印刷適應(yīng)
性，同時(shí)提供更多與表面地形相關(guān)的信。Crater值評(píng)估漏 印的風(fēng)險(xiǎn)。 OSD值是在相對(duì)于傳統(tǒng)的空氣泄露法 更精細(xì)的層面上反應(yīng)紙張表面粗糙度，從而評(píng)估 印刷適應(yīng)性。L&W OptiTopo在不同波段計(jì)算表面地形，波動(dòng)范圍從小到大。傳統(tǒng)的表面粗糙度如： PPS，本特森、針式粗糙度和謝菲爾德粗糙度都可 以通過L&W OptiTopo得到估算（需要針對(duì)不同紙 種進(jìn)行校準(zhǔn)）。紙張表面同一區(qū)域在不同光照條件下進(jìn)行兩次 成 像，不同方向的光源照射產(chǎn)生陰影和波紋。采 用光度立體技術(shù)計(jì)算高度圖從而形成紙張表面的地形圖。
便于操作
便于使用的觸摸屏配置有直觀的菜單和人機(jī)有好 的操作界面。觸摸屏分辨率高，響應(yīng)快速，同時(shí) 表面具有保護(hù)層易于清潔且堅(jiān)固耐用。耐用且持久穩(wěn)定的LED光源確保儀器需要較小的維護(hù)，且操作員自己完成簡單的維護(hù)工作。另外，實(shí)時(shí)顯示功 能 可以是調(diào)節(jié)樣品位置更加簡便，便于分析更具 代 表性的紙張表面區(qū)域。（避開那些可能導(dǎo)致結(jié)果失準(zhǔn)的有缺陷的區(qū)域）。
OSD值
L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀在不同波段測量 表面的地形 圖，波動(dòng)范圍從大 到小。OSD值是根據(jù)小尺度表面 變化計(jì)算得來，是評(píng)估印刷適應(yīng)性 的重要信息。
CRATER值
Crater值是紙張表面存在的一定深度的凹坑的數(shù)量。得知紙張表面的凹坑的百分 比可以幫助預(yù)測柔印和凹印的印刷質(zhì) 量，顯示未覆蓋區(qū)域（UCA)和漏印 點(diǎn)，因?yàn)榧垙埍砻孑^深的凹坑將在印刷 過程中無法被油墨覆蓋。
L&W OptiTopo報(bào)告三種不同的Carter值，覆蓋市場上大多數(shù)印刷等級(jí)，Carter值的區(qū)間也可以有操作者自定義。
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規(guī)格參數(shù)—L&W OptiTopo 型號(hào)269
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測量
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范圍
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OSD 值0.2 – 6 μm
Crater (精細(xì), 中等, 粗糙) 0.2 – 10 %.
計(jì)算評(píng)估值：PPS, 本特森, 謝菲爾德 和Emveco針式粗 糙度（需要根據(jù)不同紙種進(jìn)行校準(zhǔn)）
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儀器
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顯示器
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8.4英寸彩色觸摸屏
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*大喉深
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112mm（4.1in.）
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測量時(shí)間
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32*32mm測試面積約10秒
16*16mm測試面積約6秒
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測量面積
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32*32mm和16*16mm
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夾持壓力
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28N
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測試結(jié)果
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測量結(jié)果
-OSD值，Crater精細(xì)，Crater中等，Crater粗糙
統(tǒng)計(jì)結(jié)果
-平均值（單張或多層試樣）
-標(biāo)準(zhǔn)偏差
-變異系數(shù)
-系列測量的*大*小值
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連接方式
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以太網(wǎng)
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安裝需求
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100w功率
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儀表用氣
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儀表用氣>0.2MPa,
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外形尺寸
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0.50 × 0.59 × 0.45 m
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體積
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0.132m3
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凈重
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34kg
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毛重
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60kg
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相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
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PPS粗糙度，本特森粗糙度，針式粗糙度
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L&W OptiTopo光學(xué)粗糙度儀供貨范圍
1臺(tái)L&W OptiTopo 光學(xué)粗糙度儀型號(hào)269
1根電源線
1件檢查裝置
1 份交貨證書1 份產(chǎn)品手冊
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